第647章 电源短路测试失败！（2/2）

得到的数百颗“涅盘-1”芯片裸片。

它们只有指甲盖大小，在显微镜下，却是一个由数百万个晶体管构成的、精密如城市般的微观世界。

测试中心灯火通明，如同白昼。

最先进的自动测试设备（ATE）已经预热完毕，测试程序早已反复调试优化。

祁同伟、罗斯塔姆、王老院士以及所有核心团队成员，

全部聚集在测试间外的观察室。

没有人说话，每个人都屏住呼吸，盯着那扇即将开启的、通往最终审判的大门。

第一颗裸片被真空吸笔小心翼翼地放置在测试插座（Socket）上。

舱门关闭。测试工程师深吸一口气，按下了启动按钮。

“嗡……”ATE设备发出低沉的运行声。

屏幕上，测试向量（Test Vector）开始飞速加载，电源上电，时钟启动……

无数个0和1的数据流，如同咆哮的江河，涌入那颗小小的芯片。

时间仿佛凝固了。

一秒钟，两秒钟，三秒钟……

突然，ATE主控电脑的屏幕一角，一个刺眼的红色“FAIL”（失败）标志弹了出来！

同时，蜂鸣器发出尖锐的警报！

所有人的心猛地一沉！失败了？第一颗就失败了？！

“什么情况？！”测试负责人急声问道。

“是……是电源短路测试（IDDQ）失败！静态电流超标！”操作工程师的声音带着颤抖。

电源短路？

这意味着芯片内部可能存在致命的制造缺陷，比如金属线短路、栅氧击穿等。

这通常是批量性灾难的前兆。

观察室里一片死寂，绝望的情绪开始蔓延。

罗斯塔姆的脸色瞬间变得苍白，手指紧紧抓住面前的栏杆。王老院士闭上了眼睛。

只有祁同伟，眉头紧锁，紧紧盯着测试程序的控制界面。

“先别慌。检查测试插座接触是否良好？

测试板（Load Board）的电源走线有没有问题？重新校准一下测试机的电流测量单元。”

他的声音冷静得不像话，仿佛带着一种能稳定人心的力量。

测试团队立刻行动。

重新校准，更换测试插座，甚至换了一台备用的ATE设备。

然而，第二颗、第三颗裸片放上去，依然是电源短路测试失败！

绝望的气氛越来越浓。有人已经开始低声叹气，摇头。

“等等！”

罗斯塔姆突然开口，声音有些沙哑，

“把失败的芯片拿下来，放到高倍显微镜下，重点检查电源焊盘（Power Pad）和接地焊盘（Ground Pad）区域！

还有，调出这片晶圆对应区域的缺陷扫描（Defect S）图！”

他的思维依旧敏锐，在巨大的压力下，依然试图寻找问题的根源。

很快，高倍显微镜的图像传到了观察室的大屏幕上。

在明亮的灯光下，可以清晰地看到，芯片边缘的电源和接地焊盘上，

似乎残留着一些极其微小的、反光特性不同的斑点。

“是……是划片（Dig）残留的碎屑？还是封装厂清洗不彻底留下的污染物？”

一位工艺专家猜测。